HP-C-VE測頭是用于CMM系統(tǒng)的光學影像測量系統(tǒng)。2D光感CCD整合發(fā)光二極管實現(xiàn)一定視圖區(qū)域內的工件測量，同時軟件的光強調整完善了測量區(qū)域的照明條件。在每一個視圖區(qū)域可以同時選擇一個或多個測量對象（如孔徑，邊界等）。擁有HP-C-VE系統(tǒng)可以同時實現(xiàn)多傳感器組合完成工件測量，并可支持多種測頭更換架，完成影像系統(tǒng)到觸測掃描系統(tǒng)的轉換。
